IC卡動態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，銀行卡、交通卡、工控設(shè)備存儲卡、門禁卡、社?？ǖ却艞l/芯片復(fù)合卡的等卡的動態(tài)彎扭壽命驗(yàn)證?的可靠性測試? 。

IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)優(yōu)勢：自主設(shè)計(jì)按標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行雙向彎扭性能測試。

C卡動態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)是通過機(jī)械結(jié)構(gòu)對IC卡施加?長邊彎曲（±20mm位移）?和?短邊彎曲（±10mm位移）?，同時疊加?雙向扭轉(zhuǎn)（±15°角度，總30°）?，模擬卡片在錢包擠壓、頻繁彎折等場景下的動態(tài)應(yīng)力環(huán)境?：在日常使用中會經(jīng)歷反復(fù)彎曲、扭轉(zhuǎn)等機(jī)械應(yīng)力，可能導(dǎo)致芯片斷裂、觸點(diǎn)損壞或卡體分層。支持?1~9999次循環(huán)測試?，檢測卡體疲勞壽命、芯片/磁條耐久性及卡基材料抗形變能力?，該試驗(yàn)機(jī)專門用于模擬IC卡在真實(shí)使用環(huán)境中的動態(tài)彎曲+雙向扭轉(zhuǎn)疲勞，評估其機(jī)械耐久性和可靠性。

IC卡動態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)適用標(biāo)準(zhǔn)?

?國家標(biāo)準(zhǔn)?：GB/T 16649.1（帶觸點(diǎn)IC卡物理特性）、GB/T 17554.1-2006（通用測試方法）?。

?國際標(biāo)準(zhǔn)?：ISO 10373（智能卡機(jī)械特性）、ISO/IEC 7810（物理特性規(guī)范）

IC卡動態(tài)扭曲試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：

1.彎曲位移：長邊：20mm（大）/2mm（?。?/span>

        短邊：10mm（大）/1mm（?。?/span>

2.扭轉(zhuǎn)角度：±15°（±1° ）（雙向總角度30°），角度調(diào)節(jié)精度±1，雙向d=86 mm。

3.測試速度：彎曲/扭轉(zhuǎn)速度30r/min（約0.5Hz）

4.循環(huán)次數(shù)：1~9999次可設(shè)定，支持自動停機(jī)。

5.控制與測量：動態(tài)力示值精度±2%，位移測量精度±0.5%。

6.外形尺寸：L670 X W380 X H220

7.儀器重量：70kg

8.電壓：AC220V±5%

9.功 率：35W

10.長邊彎曲工位數(shù)：5工位

11.短邊彎曲工位數(shù)：5工位

12.雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù)：5工位